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德國(guó)Heidenhain編碼器測(cè)量基準(zhǔn)ROD4305000

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• 更新時(shí)間：2020-08-20

德國(guó)Heidenhain編碼器測(cè)量基準(zhǔn)ROD4305000
典型柵距不超 過(guò)8 µm ? OPTODUR相位光柵：光學(xué)三維平面格 柵線(xiàn)條，超高反光性能，典型柵距不超 過(guò)2 µm 這種方法除了能刻制柵距非常小的光柵 外，而且刻制的光柵線(xiàn)條邊緣清晰、均 勻。再加上光電掃描法，這些邊緣清晰 的刻線(xiàn)是輸出高質(zhì)量信號(hào)的關(guān)鍵。 母版光柵采用海德漢公司定制的精密 刻線(xiàn)機(jī)制造。

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 德國(guó)Heidenhain編碼器測(cè)量基準(zhǔn)ROD4305000

 海德漢公司的光學(xué)掃描光柵尺或編碼器的 測(cè)量基準(zhǔn)都是周期刻線(xiàn)－光柵。 這些光柵刻在玻璃或鋼材基體上。大長(zhǎng)度 測(cè)量用的光柵尺帶的基體為鋼帶。 海德漢公司用特別開(kāi)發(fā)的光刻工藝制造 精密光柵。 • AURODUR：在鍍金鋼帶上蝕刻線(xiàn)條， 典型柵距40 µm • METALLUR：抗污染的鍍金層金屬線(xiàn)， 典型柵距20 µm • DIADUR：玻璃基體的超硬鉻線(xiàn)（典型柵 距20 µm）或玻璃基體的三維鉻線(xiàn)格柵 （典型柵距8 µm） • SUPRADUR相位光柵：光學(xué)三維平面格 柵線(xiàn)條；*抗污能力；

典型柵距不超 過(guò)8 µm • OPTODUR相位光柵：光學(xué)三維平面格 柵線(xiàn)條，超高反光性能，典型柵距不超 過(guò)2 µm 這種方法除了能刻制柵距非常小的光柵 外，而且刻制的光柵線(xiàn)條邊緣清晰、均 勻。再加上光電掃描法，這些邊緣清晰 的刻線(xiàn)是輸出高質(zhì)量信號(hào)的關(guān)鍵。 母版光柵采用海德漢公司定制的精密 刻線(xiàn)機(jī)制造。

 測(cè)量法是指編碼器通電時(shí)就立即提供 位置值并隨時(shí)供后續(xù)信號(hào)處理電子電路讀 取。無(wú)需移動(dòng)軸執(zhí)行參考點(diǎn)回零操作。 位置信息來(lái)自圓光柵碼盤(pán)，它由一系 列碼組成。編碼結(jié)構(gòu)在每轉(zhuǎn)中都一。 獨(dú)立的增量刻軌用單場(chǎng)掃描原理讀取和轉(zhuǎn) 換成位置值。

增量測(cè)量法的光柵由周期性刻線(xiàn)組成。位 置信息通過(guò)計(jì)算自某點(diǎn)開(kāi)始的增量數(shù)（測(cè) 量步距數(shù)）獲得。由于必須用參考點(diǎn) 確定位置值，因此在光柵尺或光柵尺帶上 還刻有一個(gè)帶參考點(diǎn)的軌道。參考點(diǎn)確定 的光柵尺位置值可以到一個(gè)測(cè)量 步距。 因此，必須通過(guò)掃描參考點(diǎn)建立基準(zhǔn) 點(diǎn)或確定上次選擇的原點(diǎn)。 有時(shí)，這需要旋轉(zhuǎn)近360°。為加快和簡(jiǎn)化 “參考點(diǎn)回零”操作，許多海德漢光柵尺 刻有距離編碼參考點(diǎn)，這些參考點(diǎn)彼此相 距數(shù)學(xué)算法確定的距離。移過(guò)兩個(gè)相鄰參 考點(diǎn)后（一般只需數(shù)度）（見(jiàn)表中“名義 增量值 I”），后續(xù)電子電路就能找到絕 對(duì)參考點(diǎn)。 凡是距離編碼參考點(diǎn)編碼器在型號(hào)后均 帶有字母“C”（例如RON 786C）。

 其中： Þ1 = 一個(gè)移過(guò)的參考點(diǎn)相對(duì)零點(diǎn)位置 的角度位置，單位度 abs = 值 sgn = 代數(shù)符號(hào)（“+1”或“–1”） MRR = 移過(guò)參考點(diǎn)間的被測(cè)距離，單位度 I = 兩個(gè)固定參考點(diǎn)間的名義增量值 （見(jiàn)表） GP = 柵距（ 360° ） D = 旋轉(zhuǎn)方向（+1或–1） 向右轉(zhuǎn)（向角度編碼器安裝面看 —參見(jiàn)“配合尺寸”）為“+1” 

德國(guó)Heidenhain編碼器測(cè)量基準(zhǔn)ROD4305000